Name: Radiation Status of Sub-65 NM Electronics (en Inglés)
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Availability: InStock
Author: Pellish, Jonathan a. ; Nasa Technical Reports Server (Ntrs)
ISBN: 9781289013929

portada Radiation Status of Sub-65 NM Electronics (en Inglés)

Radiation Status of Sub-65 NM Electronics (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Nasa Technical Reports Server (Ntrs)

Jonathan a. Pellish

Editorial

Bibliogov

Idioma

Inglés

N° páginas

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

24.6x18.9x0.2 cm

Peso

0.07 kg.

ISBN13

9781289013929

Categorías

Política y gobierno

Radiation Status of Sub-65 NM Electronics (en Inglés)

Nasa Technical Reports Server (Ntrs) (Autor) · Jonathan a. Pellish (Autor) · Bibliogov · Tapa Blanda

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Ultra-scaled complementary metal oxide semiconductor (CMOS) includes commercial foundry capabilities at and below the 65 nm technology node Radiation evaluations take place using standard products and test characterization vehicles (memories, logic/latch chains, etc.) NEPP focus is two-fold: (1) Conduct early radiation evaluations to ascertain viability for future NASA missions (i.e. leverage commercial technology development). (2) Uncover gaps in current testing methodologies and mechanism comprehension -- early risk mitigation.

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