Name: Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications (Springer Series in Advanced Microelectronics)
Price: 113729.00 ARS
Availability: InStock
Author: Jacopo Franco
ISBN: 9789400776623

portada Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications (Springer Series in Advanced Microelectronics)

Formato

Libro Físico

Editorial

Springer

Autor

Jacopo Franco

Encuadernación

Tapa Dura

ISBN13

9789400776623

Categorías

Electricidad, electromagnetismo y magnetismo

Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications (Springer Series in Advanced Microelectronics)

Jacopo Franco (Autor) · Springer · Tapa Dura

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