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portada Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry: Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Autor
Editorial
Año
2010
Idioma
Inglés
N° páginas
162
Encuadernación
Tapa Blanda
Dimensiones
23.4x15.6x1 cm
Peso
0.25 kg.
ISBN
1849966745
ISBN13
9781849966740
Categorías

Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry: Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy (en Inglés)

José a. Gutierrez (Autor) · Brian S. R. Armstrong (Autor) · Springer · Tapa Blanda

Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry: Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy (en Inglés) - Gutierrez, José a. ; Armstrong, Brian S. R.

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Reseña del libro "Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry: Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy (en Inglés)"

The applications of image-based measurement are many and various: image-guided surgery, mobile-robot navigation, component alignment and photogrammetry, among others. This book addresses the problem of measurement error associated with determining the location of landmarks in images. The least possible photogrammetric uncertainty in a given situation is determined using the Cramér-Rao Lower Bound (CRLB). This monograph provides the reader with: the most complete treatment to date of precision landmark location and the engineering aspects of image capture and processing; detailed theoretical treatment of the CRLB; a software tool for analyzing the potential performance-specific camera/lens/algorithm configurations; two novel algorithms which achieve precision very close to the CRLB; a method for determining the accuracy of landmark location; a downloadable MATLAB(R) package to assist the reader with applying theoretically-derived results to practical engineering configurations.

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