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photo-excited charge collection spectroscopy: probing the traps in field-effect transistors (en Inglés)
Seongil Im
(Autor)
·
Youn-Gyoung Chang
(Autor)
·
Jae Hoon Kim
(Autor)
·
Springer
· Tapa Blanda
photo-excited charge collection spectroscopy: probing the traps in field-effect transistors (en Inglés) - Im, Seongil ; Chang, Youn-Gyoung ; Kim, Jae Hoon
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