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portada Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Autor
Idioma
Inglés
N° páginas
408
Encuadernación
Tapa Dura
Dimensiones
23.4 x 15.6 x 2.4 cm
Peso
0.78 kg.
ISBN13
9783030156114
Categorías

Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics (en Inglés)

Celano, Umberto (Autor) · Springer · Tapa Dura

Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics (en Inglés) - Celano, Umberto

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