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portada Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 159: The Scanning Transmission Electron Microscope (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Año
2009
Idioma
Inglés
N° páginas
320
Encuadernación
Tapa Dura
ISBN
0123749867
ISBN13
9780123749864
N° edición
1

Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 159: The Scanning Transmission Electron Microscope (en Inglés)

Peter W. (Edt) Hawkes (Autor) · Academic Press · Tapa Dura

Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 159: The Scanning Transmission Electron Microscope (en Inglés) - peter w. (edt) hawkes

Libro Nuevo

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Reseña del libro "Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 159: The Scanning Transmission Electron Microscope (en Inglés)"

Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials--Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.  This particular volume presents several timely articles on the scanning transmission electron microscope.Updated with contributions from leading international scholars and industry experts Discusses hot topic areas and presents current and future research trends Provides an invaluable reference and guide for physicists, engineers and mathematicians

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El libro está escrito en Inglés.
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