high performance memory testing: design principles, fault modeling and self-test (en Inglés)
adams, r. dean
high performance memory testing: design principles, fault modeling and self-test (en Inglés)
Adams, R. Dean (Autor) · springer · Libro Físico
$ 328.717
$ 346.018
Ahorras: $ 17.301
Elige la lista en la que quieres agregar tu producto o crea una nueva lista
Ir a Mis Listashigh performance memory testing: design principles, fault modeling and self-test (en Inglés)
adams, r. dean
¿Tienes una pregunta sobre el libro? Inicia sesión para poder agregar tu propia pregunta.
