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Valutazione teorica della riflettanza nei film sottili AL/SiO2 (en Italiano)
Jesús Javier Ortega Cabrera
(Autor)
·
Edizioni Sapienza
· Tapa Blanda
Valutazione teorica della riflettanza nei film sottili AL/SiO2 (en Italiano) - Ortega Cabrera, Jesús Javier
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Reseña del libro "Valutazione teorica della riflettanza nei film sottili AL/SiO2 (en Italiano)"
Il miglioramento delle proprietà ottiche di un materiale, come la riflettanza, comporta la complessa ricerca dei parametri sperimentali ottimali nel processo di ottenimento. L'uso di software computazionali per la simulazione di questi processi di crescita di film sottili rappresenta un vantaggio sostanziale dovuto alla non dipendenza da un sistema reale, così come la possibilità di esplorare una gamma più ampia di quantità fisiche coinvolte. Inoltre, c'è una necessità nell'industria automobilistica, Varroc Lighting Systems(c) ha ricevuto il compito di migliorare la riflettanza dei fari alluminati, così abbiamo effettuato lo sviluppo, utilizzando il software NASCAM(R), che utilizza il metodo cinetico Monte Carlo per sviluppare un modello del sistema fisico da studiare su scala nanometrica, questo ci permetterà di analizzare l'influenza di diverse grandezze che possono influenzare la riflettanza del materiale.
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El libro está escrito en Italiano.
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