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portada modeling nanoscale imaging in electron microscopy (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Colección
nanostructure science and technology
Año
2012
Idioma
Inglés
N° páginas
182
Encuadernación
Tapa Dura
Dimensiones
23.4 x 15.7 x 2.0 cm
Peso
0.41 kg.
ISBN
146142190x
ISBN13
9781461421900

modeling nanoscale imaging in electron microscopy (en Inglés)

Thomas Vogt (Ilustrado por) · Wolfgang Dahmen (Ilustrado por) · Peter Binev (Ilustrado por) · Springer · Tapa Dura

modeling nanoscale imaging in electron microscopy (en Inglés) - Vogt, Thomas ; Dahmen, Wolfgang ; Binev, Peter

Libro Nuevo

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  • Estado: Nuevo
Origen: Estados Unidos (Costos de importación incluídos en el precio)
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Reseña del libro "modeling nanoscale imaging in electron microscopy (en Inglés)"

Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing.

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El libro está escrito en Inglés.
La encuadernación de esta edición es Tapa Dura.

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