Compartir
lifetime spectroscopy: a method of defect characterization in silicon for photovoltaic applications
Stefan Rein
(Autor)
·
Springer
· Tapa Dura
lifetime spectroscopy: a method of defect characterization in silicon for photovoltaic applications - Rein, Stefan
Sin Stock
Te enviaremos un correo cuando el libro vuelva a estar disponible
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.
El libro está escrito en Inglés.
La encuadernación de esta edición es Tapa Dura.
✓ Producto agregado correctamente al carro, Ir a Pagar.