¡Solo por 48 horas! Oferta Flash hasta 50% dcto en miles de libros  Ver más

Enviar a
Ciudad Autónoma de Buenos Aires, C.A.B.A.
0

Mi Cuenta

  • argentina
  • chile
  • colombia
  • españa
  • méxico
  • perú
  • estados unidos
  • internacional

menú

Selecciona tu país

América

Europa

Resto del mundo

portada Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in Nanocmos (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Autor
Editorial
Idioma
Inglés
N° páginas
118
Encuadernación
Tapa Blanda
Dimensiones
23.4 x 15.6 x 0.8 cm
Peso
0.20 kg.
ISBN13
9783319840413
Categorías

Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in Nanocmos (en Inglés)

Ricardo Reis (Autor) · Gracieli Posser (Autor) · Sachin S. Sapatnekar (Autor) · Springer · Tapa Blanda

Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in Nanocmos (en Inglés) - Posser, Gracieli ; Sapatnekar, Sachin S. ; Reis, Ricardo

Libro Nuevo Importado *
Envío: 13 a 19 días háb.
$ 181.468$ 90.734
-50%
* Costos de importación incluídos en el precio ✅
Libro Nuevo

Quedan más de 100 unidades

$ 90.734
Se enviará desde nuestra bodega entre el Jueves 16 de Abril y el Viernes 24 de Abril
Más Info
Origen: Estados Unidos Costos de importación incluídos en el precio ✅
Se enviará desde nuestra bodega entre el Jueves 16 de Abril y el Viernes 24 de Abril.
Lo recibirás en cualquier lugar de Argentina entre 1 y 3 días hábiles luego del envío.

Elige la lista en la que quieres agregar tu producto o crea una nueva lista

Ir a Mis Listas
Calcula el costo de envío

Reseña del libro "Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in Nanocmos (en Inglés)"

This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power. The authors are the first to analyze and propose a solution for the electromigration effects inside logic cells of a circuit. They show in this book that an interconnect inside a cell can fail reducing considerably the circuit lifetime and they demonstrate a methodology to optimize the lifetime of circuits, by placing the output, Vdd and Vss pin of the cells in the less critical regions, where the electromigration effects are reduced. Readers will be enabled to apply this methodology only for the critical cells in the circuit, avoiding impact in the circuit delay, area and performance, thus increasing the lifetime of the circuit without loss in other characteristics.

Opiniones del libro

Ver más opiniones de clientes
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)

Preguntas frecuentes sobre el libro

¿El libro es original?

Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.

¿En qué Idioma está escrito el libro?

El libro está escrito en Inglés.

¿Cuál es la encuadernación de este libro?

La encuadernación de esta edición es Tapa Blanda.

Preguntas y respuestas sobre el libro

¿Tienes una pregunta sobre el libro? Inicia sesión para poder agregar tu propia pregunta.

Opiniones sobre Buscalibre

Ver más opiniones de clientes