Name: Design for Testability, Debug and Reliability (en Inglés)
Price: 93246.00 ARS
Availability: InStock
Author: Rolf Drechsler;Sebastian Huhn
ISBN: 9783030692100

portada Design for Testability, Debug and Reliability (en Inglés)

Design for Testability, Debug and Reliability (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Springer Nature B.V.

Autor

Rolf Drechsler;Sebastian Huhn

Año

2021

Idioma

Inglés

N° páginas

188

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4 x 15.6 cm

ISBN13

9783030692100

Design for Testability, Debug and Reliability (en Inglés)

Rolf Drechsler;Sebastian Huhn (Autor) · Springer Nature B.V. · Tapa Blanda

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This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications. The authors describe new measures to address the rising challenges in the field of design for testability, debug, and reliability, as strictly required for state-of-the-art circuit designs. In particular, this book combines formal techniques, such as the Satisfiability (SAT) problem and the Bounded Model Checking (BMC), to address the arising challenges concerning the increase in test data volume, as well as test application time and the required reliability. All methods are discussed in detail and evaluated extensively, while considering industry-relevant benchmark candidates. All measures have been integrated into a common framework, which implements standardized software/hardware interfaces.

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