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portada Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1 (Volume 232) (Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 232) (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Autor
Idioma
Inglés
N° páginas
232
Encuadernación
Tapa Dura
ISBN13
9780443297762
N° edición
1

Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1 (Volume 232) (Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 232) (en Inglés)

Hawkes Peter W.,HÿTch Martin (Autor) · Academic Press · Tapa Dura

Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1 (Volume 232) (Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 232) (en Inglés) - Hawkes Peter W.,HÿTch Martin

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Reseña del libro "Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1 (Volume 232) (Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 232) (en Inglés)"

Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1, Volume 232 merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The series features articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains. Specific chapters cover Introduction to inverse problems in electron microscopy, Directional sinogram inpainting for limited angle tomography, Strain tomography of crystals, FISTA with adaptive discretization, Total variation discretization, and Reconstruction with a Gaussian Dictionary.

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